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芯片电气性能测试

芯片电气性能测试围绕芯片电气性能的质量与性能要求开展评价，检测内容包括输入/输出电压、电流及输入高/低电平电压（VIH/VIL）。相关内容依据产品类型和实际用途，并说明电源完整性测试、电源噪声测试、电源跌落测试及精准测量等实施环节，帮助送检方按样品材质和使用条件选择项目，所得数据可用于研发选材、质量控制和问题排查。