原子力显微镜AFM
原子力显微镜AFM可用于材料表面纳米尺度形貌分析，重点获得三维形貌、粗糙度及局部力学信息。本文说明测试原理、典型应用和样品要求，并结合制样条件、仪器模式或结果判读介绍使用要点，便于根据材料类型和分析目标选择合适的表征方案。同时提示不同样品状态的前处理差异和常见干扰因素，避免制样或参数设置不当影响结果解释。
2025年03月27日 电镜类
扫描电子显微镜SEM
扫描电子显微镜SEM可用于材料表面、断口和微区缺陷观察，重点获得表面形貌、微区成分及断裂特征。本文说明测试原理、典型应用和样品要求，并结合制样条件、仪器模式或结果判读介绍使用要点，便于根据材料类型和分析目标选择合适的表征方案。同时提示不同样品状态的前处理差异和常见干扰因素，避免制样或参数设置不当影响结果解释。
2025年03月27日 电镜类
透射电子显微镜TEM
透射电子显微镜TEM可用于纳米材料与微区组织结构表征，重点获得微观形貌、晶格结构及元素分布。本文说明测试原理、典型应用和样品要求，并结合制样条件、仪器模式或结果判读介绍使用要点，便于根据材料类型和分析目标选择合适的表征方案。同时提示不同样品状态的前处理差异和常见干扰因素，避免制样或参数设置不当影响结果解释。
2025年03月27日 电镜类
球差校正透射电子显微镜
球差校正透射电子显微镜可用于纳米材料与微区组织结构表征，重点获得微观形貌、晶格结构及元素分布。本文说明测试原理、典型应用和样品要求，并结合制样条件、仪器模式或结果判读介绍使用要点，便于根据材料类型和分析目标选择合适的表征方案。同时提示不同样品状态的前处理差异和常见干扰因素，避免制样或参数设置不当影响结果解释。
2025年03月27日 电镜类