原子力显微镜AFM 原子力显微镜AFM可用于材料表面纳米尺度形貌分析,重点获得三维形貌、粗糙度及局部力学信息。本文说明测试原理、典型应用和样品要求,并结合制样条件、仪器模式或结果判读介绍使用要点,便于根据材料类型和分析目标选择合适的表征方案。同时提示不同样品状态的前处理差异和常见干扰因素,避免制样或参数设置不当影响结果解释。 2025年03月27日 电镜类