同步辐射吸收谱测试

同步辐射吸收谱，又称X射线吸收精细结构（X-ray Absorption Fine Structure，简称XAFS），是一种先进的材料表征技术。它主要用于分析样品中特定元素的化学价态、周围原子的配位环境（如配位数、键长）以及吸收原子的电子结构（包括轨道跃迁、杂化等信息）。XAFS是一种微观尺度的结构分析方法，能够提供关于材料原子和电子层面的详细信息。

XAFS测试通常适用于金属元素（利用硬X射线）或原子序数较小的非金属元素（如碳C、氮N、氧O，利用软X射线）。这项技术基于同步辐射光源，是研究材料局部原子结构和电子结构的有力工具，在催化、能源、纳米材料等前沿科研领域具有广泛应用。

XAFS测试的优势有哪些？

相比于其他表征手段，XAFS具有以下显著优势：

1. 适用于非晶材料： XAFS不依赖于材料的长程有序结构，因此可以用于研究非晶态、无定形材料。
2. 元素特异性： XAFS可以针对样品中的特定元素进行分析，不受其他元素干扰，实现对多组分材料中不同元素分别进行研究。
3. 样品形态多样性： XAFS对样品的状态没有严格限制，可以测量固体（晶体、粉末）、液体（溶液、熔融态）以及气体样品。
4. 无损检测与原位分析： XAFS测试对样品无破坏性，可以进行原位(in-situ)测试，实时监测材料在反应过程中的结构变化。
5. 高精度结构参数： XAFS能够提供高精度的结构信息，包括配位原子种类、配位数、原子间距等，原子间距的测量精度可达0.01Å。

XAFS测试的样品要求有哪些？

为了获得高质量的XAFS测试数据，对样品有以下基本要求：

1. 样品量：
   • 粉末样品：通常需要100毫克以上，且待测元素含量不低于1%（质量百分比）。
   • 块体或薄膜样品：建议尺寸在1cm x 1cm左右。
   • 液体样品：体积大于1毫升，浓度大于1%。
2. 样品成分信息： 请提供样品的ICP测试结果，详细列出样品中各元素的质量百分比含量。
3. 放射性： 含有放射性元素的样品无法进行测试。
4. 不适合进行XAFS测试的样品类型：
   • 样品不均匀： 如果样品中单原子数量很少，或者存在大量团簇，由于XAFS是体相测试方法，测试结果可能偏向于单质相，无法准确反映局部的结构信息。
   • 待测元素含量过低： 通常情况下，待测元素质量百分比应高于0.5%（透射模式）或0.1-0.5%（荧光模式，需增加扫描次数）。低于0.1%的样品很难获得高质量数据。
   • 元素组成过于复杂： 样品中多种金属元素的存在可能干扰测试信号，导致信噪比降低，并使EXAFS谱图中配位键的归属变得困难。

XAFS测试结果展示

常见问题 (FAQ)

• 问：XAFS测试的费用是多少？
  • 答：XAFS测试费用因样品类型、测试条件、数据分析要求等因素而异，请联系我们获取详细报价。
• 问：XAFS测试需要多长时间？
  • 答：测试时间取决于具体实验方案，通常在数小时至数天不等。
• 问：如何预约XAFS测试服务？
  • 答：您可以通过电话、电子邮件或在线表格联系我们，预约XAFS测试服务。